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产品中心
全自动比表面积与孔隙度分析仪
TriStar II Puls 全自动比表面积与孔隙度分析仪直接处理吸附数据,通过简单的移动计算条,一键式访问重要的参数,允许用户自定义多达五份报告,可在屏幕上预览,在一个易于使用的应用程
TriStar II Puls 全自动比表面积与孔隙度分析仪直接处理吸附数据,通过简单的移动计算条,一键式访问重要的参数,允许用户自定义多达五份报告,可在屏幕上预览,在一个易于使用的应用程序中快速查看微孔、中孔和大孔分布,CO2可在低温下进入很小的微孔,而N2由于尺寸限制、链接问题以及扩散缓慢等原因进入不了这些微孔,制备系统可为比表面和孔隙度分析制备样品,它使用流动加热或者真空加热达到去除样品表面例如水和其他吸附气体的目的。
技术参数:
1、温度稳定度:±0.1℃;
2、可控分辨力:0.1℃;
3、冷却功率:0°C时约为80W;
4、温度范围:-5°C至75°C;
5、型号:TriStar II Puls。
产品特点:
1、功能性、操作性、使用性都是比较稳定可靠;
2、双模式操作校准模式比较简单,一键校准节省时间;
3、全钢结构一体成型,坚固的设计方案和实际应用步骤;
4、技术相当成熟稳定,不占空间,方便外出携带工作;
5、设备的应用性简单,使用方便,无复杂流程。
TriStar II Puls 全自动比表面积与孔隙度分析仪两种去除吸附污染物的方法。除流动气体外,该样品准备单元提供真空,通过加热和疏散来准备样品,每个站可以独立操作,而不会影响其他正在处理的样品。当样品完成所有脱气步骤后,脱气将自动终止,Chiller Dewar为高表面积铜线圈构成的封闭循环装置,保证了杜瓦瓶与循环液体之间的高效热交换。温度则通过外配的循环浴来控制,CO2、N2和其他气体吸附分析。该装置能够以小的电流需求量快速制冷且有效地维持温度。