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J200飞秒激光剥蚀进样系统

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J200飞秒激光剥蚀进样系统用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式,包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式, 长激光脉冲系统产生的样品颗粒大(常大于数微米),驻留在输送管中,导致运输效率低

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J200飞秒激光剥蚀进样系统用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式,包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式, 长激光脉冲系统产生的样品颗粒大(常大于数微米),驻留在输送管中,导致运输效率低,并且降低了分析的灵敏度,用户可*依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS系统,用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键,用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态。

设备特点:
1、系统还可以对植物叶片进行深度的分析;
2、可编制成组,自动顺序执行,使测量工作高度自动化;
3、用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式;
4、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态;
5、用户可将多个硬件部件运行命令集合,并按时间顺序排列;
6、易浏览不同的样品区域,设立灵活的采样方式;
7、连续可调光学衰减器,集成激光能量监测单元。

J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,系统通过非热过程,施加超高激光辐射剥蚀样品,产生的颗粒能在ICP源*消解,确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号,J200LA-fs剥蚀均匀一致,剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。

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